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高周波・ 光元件用陶瓷製品 セラミック製品検索

檢驗標準

・適用於從民生用品到航太工業等級的各項電子精密產品。
・檢驗的等級分為標準、商業用、及特製品三類。
・每批次均進行隨機取樣,進行物理及電學檢查。並對每一件產品進行外觀檢查。

標準檢驗

A型單層電容 (ClassⅠ, ClassⅡ)

B型單層電容 (ClassⅠ, ClassⅡ)

C型單層電容(ClassⅠ, ClassⅡ)

長方形電容

陣列電容

雙極電容

檢驗項目 檢驗數量 容錯率
外觀檢查 標準級 Inspection Lot AQL II(1.0%) Inspection Lot AQL II(1.0%)
商用級 Inspection Lot AQL II(1.0%) Inspection Lot AQL II(1.0%)
電氣特性 靜電容量 Inspection Lot AQL II(1.0%) Inspection Lot AQL II(1.0%)
導電耗散率 Inspection Lot AQL II(1.0%) Inspection Lot AQL II(1.0%)
絕緣阻抗 10 pcs per Wafer Lot 0
耐電壓 10 pcs per Wafer Lot 0
物理性質 焊線拉力測試 3 pcs per Wafer Lot 0
推力測試 3 pcs per Wafer Lot 0
耐熱 400 °C For 5 min. 5 pcs per Wafer Lot 0
尺寸 尺寸測量 3 pcs per Wafer Lot 0

A型單層陶瓷電容 (Class Ⅳ)

B型單層陶瓷電容 (Class Ⅳ)

多連結電容

檢驗項目 檢驗數量 容錯率
外觀檢查 Inspection Lot AQL II(1.0%) Inspection Lot AQL II(1.0%)
電氣特性 靜電容量 Inspection Lot AQL II(1.0%) Inspection Lot AQL II(1.0%)
導電耗散率 Inspection Lot AQL II(1.0%) Inspection Lot AQL II(1.0%)
絕緣阻抗 Inspection Lot AQL I(0.15%) Inspection Lot AQL I(0.15%)
耐電壓 10 pcs per Wafer Lot 0
物理性質 焊線拉力測試 3 pcs per Wafer Lot 0
推力測試 3 pcs per Wafer Lot 0
尺寸 尺寸測量 3 pcs per Wafer Lot 0

IRC一體化電容電阻

檢驗項目 檢驗數量 容錯率
外觀檢查 Inspection Lot AQL II(1.0%) Inspection Lot AQL II(1.0%)
電氣特性 靜電容量 Inspection Lot AQL II(1.0%) Inspection Lot AQL II(1.0%)
導電耗散率 Inspection Lot AQL II(1.0%) Inspection Lot AQL II(1.0%)
絕緣阻抗 Inspection Lot AQL I(0.15%) Inspection Lot AQL I(0.15%)
耐電壓 10 pcs per Wafer Lot 0
抵抗値 Inspection Lot AQL I(1.5%) Inspection Lot AQL I(1.5%)
物理性質 焊線拉力測試 3 pcs per Wafer Lot 0
推力測試 3 pcs per Wafer Lot 0
尺寸 尺寸測量 3 pcs per Wafer Lot 0

薄膜晶片電阻

檢驗項目 檢驗數量 容錯率
外觀檢查 Inspection Lot AQL II(1.0%) Inspection Lot AQL II(1.0%)
電氣特性 靜電容量 Inspection Lot AQL I(1.5%) Inspection Lot AQL I(1.5%)
物理性質 焊線拉力測試 3 pcs per Wafer Lot 0
推力測試 3 pcs per Wafer Lot 0
耐熱 320 °C For 5 min. 3 pcs per Wafer Lot 0
尺寸 尺寸測量 3 pcs per Wafer Lot 0

Ground Blocks

檢驗項目 檢驗數量 容錯率
外觀檢查 Inspection Lot AQL II(1.0%) Inspection Lot AQL II(1.0%)
物理性質 焊線拉力測試 3 pcs per Wafer Lot 0
推力測試 3 pcs per Wafer Lot 0
耐熱 400 °C For 5 min. 3 pcs per Wafer Lot 0
尺寸 尺寸測量 3 pcs per Wafer Lot 0

薄膜回路基板

檢驗項目 檢驗數量 容錯率
外觀檢查 Inspection Lot AQL II(1.0%) Inspection Lot AQL II(1.0%)
尺寸 尺寸測量 3 pcs per Wafer Lot 0

*其他檢查會陰產品設計而有所不同,若有需求請與我們聯絡

特製品檢驗(對象商品:單層電容)

MIL-C-49464/MIL-PRF-49464/MIL-C-55681
MIL-PRF-38534, Table C-Ⅲ ,Level H&K
Customer Specification

檢驗項目

項目 檢驗條件
溫度循環測試 MIL-STD-883 / Method 1010 Cond. A / B / C
冷熱衝擊實驗 MIL-STD-202 / Method 107 Cond. A / B / F
高溫耐電壓測試 MIL-STD-883 / Method 1015 Cond. A / B / C / F
電容值與導電耗散率測試 MIL-STD-202 / Method 305
絕緣電阻測試 MIL-STD-202 / Method 302
絕緣破壞電壓測試 MIL-STD-202 / Method 301
焊線拉力測試 MIL-STD-883 / Method 2011 Cond. D
推力測試 MIL-STD-883 / Method 2019 最大 3 kg
溫度係數測試 EIA-198 / Method 105
浸漬測試 MIL-STD-202 / Method 104
耐焊晶耐熱測試 MIL-STD-202 / Method 210 Cond. A / B / C / D
耐濕測試 MIL-STD-202 / Method 106
使用壽命測試 MIL-STD-202 / Method 108 最大 150 °C
濕度(定常狀態) MIL-STD-202 / Method 103
定加速度測試 MIL-STD-883 / Method 2001 Cond. A / B / C / D / E / F / G / H / Y1
耐振動測試 MIL-STD-202 / Method 201
高頻振動測試 MIL-STD-202 / Method 204 Cond. A / B / C / D
變頻振動測試 MIL-STD-883 / Method 2007 Cond. A

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