テクダイヤ株式会社

高周波 ・ 光デバイス用セラミック製品 セラミック製品検索

検査基準

・民生と航空宇宙システム向けの幅広いアプリケーションに適応
・検査方法のグレードを、スタンダード、コマーシャル、カスタムの3種類に分類
・ロット毎にサンプリングで機械的・電気的特性検査をし、外観検査は全数試験を実施

標準検査

単層セラミックコンデンサ 「Aタイプ」 (ClassⅠ, ClassⅡ)

単層セラミックコンデンサ 「Bタイプ」 (ClassⅠ, ClassⅡ)

単層セラミックコンデンサ 「Cタイプ」(ClassⅠ, ClassⅡ)

長方形単層セラミックコンデンサ

バイナリー型セラミックコンデンサ

ギャップ型セラミックコンデンサ

検査項目 検査数量 許容不良数
外観検査 スタンダードグレード Inspection Lot AQL II(1.0%) Inspection Lot AQL II(1.0%)
コマーシャルグレード Inspection Lot AQL II(1.0%) Inspection Lot AQL II(1.0%)
電気特性 静電容量 Inspection Lot AQL II(1.0%) Inspection Lot AQL II(1.0%)
誘電損失 Inspection Lot AQL II(1.0%) Inspection Lot AQL II(1.0%)
絶縁抵抗 10 pcs per Wafer Lot 0
耐電圧 10 pcs per Wafer Lot 0
機械特性 ワイヤー引張強度 3 pcs per Wafer Lot 0
ダイシェア強度 3 pcs per Wafer Lot 0
耐熱 400 °C For 5 min. 5 pcs per Wafer Lot 0
寸法 寸法測定 3 pcs per Wafer Lot 0

単層セラミックコンデンサ 「Aタイプ」 (Class Ⅳ)

単層セラミックコンデンサ 「Cタイプ」 (Class Ⅳ)

マルチ電極セラミックコンデンサ

検査項目 検査数量 許容不良数
外観検査 Inspection Lot AQL II(1.0%) Inspection Lot AQL II(1.0%)
電気特性 静電容量 Inspection Lot AQL II(1.0%) Inspection Lot AQL II(1.0%)
誘電損失 Inspection Lot AQL II(1.0%) Inspection Lot AQL II(1.0%)
絶縁抵抗 Inspection Lot AQL I(0.15%) Inspection Lot AQL I(0.15%)
耐電圧 10 pcs per Wafer Lot 0
機械特性 ワイヤー引張強度 3 pcs per Wafer Lot 0
ダイシェア強度 3 pcs per Wafer Lot 0
寸法 寸法測定 3 pcs per Wafer Lot 0

抵抗付セラミックコンデンサ

検査項目 検査数量) 許容不良数
外観検査 Inspection Lot AQL II(1.0%) Inspection Lot AQL II(1.0%)
電気特性 静電容量 Inspection Lot AQL II(1.0%) Inspection Lot AQL II(1.0%)
誘電損失 Inspection Lot AQL II(1.0%) Inspection Lot AQL II(1.0%)
絶縁抵抗 Inspection Lot AQL I(0.15%) Inspection Lot AQL I(0.15%)
耐電圧 10 pcs per Wafer Lot 0
抵抗値 Inspection Lot AQL I(1.5%) Inspection Lot AQL I(1.5%)
機械特性 ワイヤー引張強度 3 pcs per Wafer Lot 0
ダイシェア強度 3 pcs per Wafer Lot 0
寸法 寸法測定 3 pcs per Wafer Lot 0

薄膜チップ抵抗器

検査項目 検査数量 許容不良数
外観検査 Inspection Lot AQL II(1.0%) Inspection Lot AQL II(1.0%)
電気特性 静電容量 Inspection Lot AQL I(1.5%) Inspection Lot AQL I(1.5%)
機械特性 ワイヤー引張強度 3 pcs per Wafer Lot 0
ダイシェア強度 3 pcs per Wafer Lot 0
耐熱 320 °C For 5 min. 3 pcs per Wafer Lot 0
寸法 寸法測定 3 pcs per Wafer Lot 0

グラウンド・ブロック

検査項目 検査数量 許容不良数
外観検査 Inspection Lot AQL II(1.0%) Inspection Lot AQL II(1.0%)
機械特性 ワイヤー引張強度 3 pcs per Wafer Lot 0
ダイシェア強度 3 pcs per Wafer Lot 0
耐熱 400 °C For 5 min. 3 pcs per Wafer Lot 0
寸法 寸法測定 3 pcs per Wafer Lot 0

薄膜回路基板

検査項目 検査数量 許容不良数
外観検査 Inspection Lot AQL II(1.0%) Inspection Lot AQL II(1.0%)
寸法 寸法測定 3 pcs per Wafer Lot 0

*その他の検査はデザインによって異なりますので、お問い合せください。

カスタム検査試験 (対象商品:単層セラミックコンデンサ)

MIL-C-49464/MIL-PRF-49464/MIL-C-55681
MIL-PRF-38534, Table C-Ⅲ ,Level H&K
Customer Specification

試験能力

項目 試験条件
温度サイクル MIL-STD-883 / Method 1010 Cond. A / B / C
熱衝撃 MIL-STD-202 / Method 107 Cond. A / B / F
高温負荷 MIL-STD-883 / Method 1015 Cond. A / B / C / F
静電容量誘電損失 MIL-STD-202 / Method 305
絶源抵抗 MIL-STD-202 / Method 302
耐電圧 MIL-STD-202 / Method 301
ワイヤー引張強度 MIL-STD-883 / Method 2011 Cond. D
ダイシェア強度 MIL-STD-883 / Method 2019 最大 3 kg
温度特性 EIA-198 / Method 105
浸漬 MIL-STD-202 / Method 104
耐ハンダ性 MIL-STD-202 / Method 210 Cond. A / B / C / D
耐湿 MIL-STD-202 / Method 106
寿命 MIL-STD-202 / Method 108 最大 150 °C
温度(定常) MIL-STD-202 / Method 103
定加速度 MIL-STD-883 / Method 2001 Cond. A / B / C / D / E / F / G / H / Y1
振動 MIL-STD-202 / Method 201
高周波振動 MIL-STD-202 / Method 204 Cond. A / B / C / D
可変振動 MIL-STD-883 / Method 2007 Cond. A

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