・民生と航空宇宙システム向けの幅広いアプリケーションに適応
・検査方法のグレードを、スタンダード、コマーシャル、カスタムの3種類に分類
・ロット毎にサンプリングで機械的・電気的特性検査をし、外観検査は全数試験を実施

標準検査

単層セラミックコンデンサ 「Aタイプ」 (ClassⅠ, ClassⅡ)

単層セラミックコンデンサ 「Bタイプ」 (ClassⅠ, ClassⅡ)

単層セラミックコンデンサ 「Cタイプ」(ClassⅠ, ClassⅡ)

長方形単層セラミックコンデンサ

バイナリー型セラミックコンデンサ

ギャップ型セラミックコンデンサ

検査項目		検査数量
外観	外観検査	Inspection Lot AQL II(1.0％)
電気特性	静電容量	Inspection Lot AQL II(1.0％)
	誘電損失	Inspection Lot AQL II(1.0％)
	絶縁抵抗	10 pics per Wafer Lot . 0 Allowable Failures
機械特性	ワイヤー引張強度	3 pics per Wafer Lot . 0 Allowable Failures
耐熱	400 °C For 5 min	5 pics per Wafer Lot . 0 Allowable Failures
寸法	寸法測定	3 pics per Wafer Lot . 0 Allowable Failures

単層セラミックコンデンサ 「Aタイプ」 (Class Ⅳ)

単層セラミックコンデンサ 「Cタイプ」 (Class Ⅳ)

マルチ電極セラミックコンデンサ

検査項目		検査数量
外観	外観検査	Inspection Lot AQL II(1.0％)
電気特性	静電容量	Inspection Lot AQL II(1.0％)
	誘電損失	Inspection Lot AQL II(1.0％)
	絶縁抵抗	Inspection Lot AQL Ⅰ(0.15%)
機械特性	ワイヤー引張強度	3 pics per Wafer Lot . 0 Allowable Failures
寸法	寸法測定	3 pics per Wafer Lot . 0 Allowable Failures

薄膜チップ抵抗器

検査項目		検査数量	許容不良数
外観検査		Inspection Lot AQL II(1.0％)	Inspection Lot AQL II(1.0％)
電気特性	抵抗値	Inspection Lot AQL I(1.5%)	Inspection Lot AQL I(1.5%)
機械特性	ワイヤー引張強度	3 pcs per Wafer Lot	0
耐熱	320 °C For 5 min.	3 pcs per Wafer Lot	0
寸法	寸法測定	3 pcs per Wafer Lot	0

グラウンド・ブロック

検査項目		検査数量	許容不良数
外観検査		Inspection Lot AQL II(1.0％)	Inspection Lot AQL II(1.0％)
機械特性	ワイヤー引張強度	3 pcs per Wafer Lot	0
耐熱	400 °C For 5 min	3 pcs per Wafer Lot	0
寸法	寸法測定	3 pcs per Wafer Lot	0

薄膜回路基板

検査項目		検査数量	許容不良数
外観検査		Inspection Lot AQL II(1.0％)	Inspection Lot AQL II(1.0％)
寸法	寸法測定	3 pcs per Wafer Lot	0

*その他の検査はデザインによって異なりますので、お問い合せください。

カスタム検査試験 （対象商品：単層セラミックコンデンサ）

MIL-PRF-38534, Table C-Ⅲ-1, Class H

その他の試験能力

項目		試験条件
温度サイクル		MIL-STD-883 / Method 1010 Cond. A / B / C
熱衝撃		MIL-STD-202 / Method 107 Cond. A / B / F
ダイシェア強度		MIL-STD-883 / Method 2019
温度特性		EIA-198 / Method 105 (B)
浸漬		MIL-STD-202 / Method 104 Cond. A / B
耐湿		MIL-STD-202 / Method 106
寿命		MIL-PRF-49464 / par. 4.8.13
振動		MIL-STD-202 / Method 201
高周波振動		MIL-STD-202 / Method 204 Cond. A / D
可変振動		MIL-STD-883 / Method 2007 Cond. A

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